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檢測儀器 >> LED藍(lán)寶石碳化硅質(zhì)量檢測儀器 >> HS-FZ-Z2 藍(lán)寶石點(diǎn)面定向儀衍射儀
                


HS-JF-Z2藍(lán)寶石定向儀,是我公司基于市場目前缺乏對晶體生長切割后,需要對晶圓進(jìn)行晶向指數(shù)分析,晶體長勢分析,晶體缺陷分析等一系列有益于晶體更完好的呈現(xiàn),它利用布拉格衍射方程2dHKLsinθn=nλ的基本原理,晶體學(xué),現(xiàn)代自動化技術(shù),計算機(jī)軟件技術(shù)等相關(guān)領(lǐng)域的技術(shù),幫助各大晶體研究類科研院所,結(jié)晶與礦物材料類物理研究院校,國內(nèi)大型長晶企業(yè),對晶體的原子層面分析從抽象化分析,相對有了更具象的概念定義。                                                                                            

設(shè)備基本原理:晶體衍射X射線,其衍射方向是與晶體的周期性(d)有關(guān)的。一個衍射總可找到一個晶面族HKL,使它與入射線在此面族上符合反射關(guān)系,就以此面族的符號HKL作為此衍射之指數(shù);量測出晶體的實(shí)際晶面取向夾角,分析出晶向指數(shù),繪制出相應(yīng)角度與接收到衍射線的強(qiáng)度的關(guān)系,從而幫助分析出原子在晶胞中的分布狀況。   

                                                                                                               

   HS-FZ-Z2藍(lán)寶石定向儀具備如下特點(diǎn):                                                                                              1.已知,未知角度單晶的多點(diǎn)原子點(diǎn)陣面自動定向與分析;            2.多點(diǎn)回擺曲線量測,方便晶體長勢分析;                         

3.同衍射強(qiáng)度多點(diǎn)掃描,方便晶體缺陷,位錯,翹曲位置判斷分析;    

4.多點(diǎn)數(shù)據(jù)采樣;                                               

5.圖表繪制與表達(dá),方便分析出加工后晶體的晶面取向;             

6.衍射能力弱,晶面指數(shù)高的晶向檢測;                              7.具有全集成智能化微機(jī)分析處理,操作簡單便捷;                    8.水冷器X-RAY發(fā)射器,10-50KV電源可調(diào),2-40MA可調(diào)。光源穩(wěn)定可靠;  9.θ,2θ連續(xù)動作,單獨(dú)動作,掃描范圍寬,自動尋峰掃描;        10.定位精度高,步進(jìn)角度最小1″,重復(fù)定位精度±1″                11.晶體重復(fù)測量度±15″;  

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